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特性：
・ 交流/直流共用。微电阻测试范围0.1µΩ~2000Ω，测试速度2秒/8通道。
・ 可以与温度循环试验箱一起构成系统，统一管理。
・ 适合于BGA/CSP为代表的高密度封装部件的焊接接合评价和多层基板的导通检查，以及连接器或接插件的接触电阻的多点连续测定。
・ 测试通道，醉倒256通道（32通道/基板、8基板构成）。还有微型的MLR22mini。
主要技术规格：
测定电阻值范围及分辨率
交流测定
直流测定
1）2.000kΩ（分辨率1Ω）
2）200.0Ω（分辨率100mΩ）
3）20.00Ω（分辨率10mΩ）
4）2.000Ω（分辨率1mΩ）
5）200.0mΩ（分辨率100µΩ）
6）20.00mΩ（分辨率10µΩ）
200.00kΩ
20.000kΩ
2.0000kΩ
200.00Ω
20.000Ω
测定频率
2kHz
测定电压
20mV（rms）以下
测定点数
32通道/基板（最多256通道）
